1. 技术需求提出背景及应用领域

碲锌镉（简称CZT）是目前综合性能最佳的第三代核辐射探测材料，尤其是在高能射线成像方面，可展望的应用领域十分广泛。但目前针对CZT像素探测器的ASIC芯片尚无国产芯片，国外进口芯片价格高昂。本项目旨在基于我公司国际领先的CZT材料和期间制备技术基础上，开发CZT像素探测器芯片，可为光子技术型或电流积分型。

2. 需求解决的技术问题

针对光子技术成像或电流积分成像应用需求，提炼关键电路指标参数，进行高密度CZT专用ASIC芯片的整体布局和结构设计。

3.技术难点

（1）高剂量辐照会造成器件的辐照损伤，需要提高耐辐照寿命；（2）高密度ASIC的单通道噪声、功耗控制。

4.主要技术经济指标

（1）光子计数型ASIC：像素面积300μm×300μm，单像素噪声≤100e，5能窗甄别，单通道计数率≥2Mcps，单颗芯片256×256像素可拼接，像素一致性≥90%；（2）电流积分型ASIC：读出电子学噪声小于250e；动态范围≥70dB；ASIC芯片耐辐照寿命≥1kGy。

5.其他

具体详细指标可在设计时讨论。

联系方式：029—82401793，029—824017919  孙力、高海鹏