“元器件失效分析技术与经典案例”培训会在大市场顺利举行

来源: 西安科技大市场
时间:2019-12-12
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本网讯  为帮助更多企业了解元器件失效模式和机理,解决由于元器件失效引起的电子产品故障,从而提高产品质量和可靠性,12月12日,西安科技大市场联合工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心共同举办“元器件失效分析技术与经典案例”培训会。


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本次培训特邀工业和信息化部电子第五研究所分析中心元器件可靠性工程部部长石高明作为主讲嘉宾,为大家讲解失效分析概论、电子元器件失效分析技术、常用失效分析设备及作用介绍、电子元器件主要失效模式和固有失效机理、主要电子元器件失效分析经典案例(电阻器、电容器、电感器、二极管、三极管、MOS、IC、电路模块等)、 电子元器件失效影响因素及控制对策6个方面内容。本次培训共有一百余家企业到场参加。